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BCT 1000球坑測厚儀 球坑測厚儀BCT1000 PI-300/WPI-300偏振相機 WPA-200應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng) HYBRID白光共聚焦顯微鏡 WPA-200-MT應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng) UTA-IA無掩膜光刻機 雙折射測量儀PA-Micro WPA-NIR紅外應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng) PA系列玻璃應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng) 內(nèi)應(yīng)力測量儀PA-300-XL Micro Support微區(qū)取樣儀 PA300玻璃應(yīng)力雙折檢測系統(tǒng) PA-110-t晶圓應(yīng)力雙折射測量儀 雙折射測量儀PA-300-MT WPA-micro相位差測量儀
推薦產(chǎn)品
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattice公司以其光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，的測量技術(shù)使其成為的光學測量產(chǎn)品。該產(chǎn)品在測量過程中...
球坑測厚儀的特點是采用優(yōu)質(zhì)機械加工部件和傻瓜化的操作，使得設(shè)備特別適合于要求快速測量硬質(zhì)層的厚度。球坑法是一種簡易實用的鍍層厚度測試方法，主要用于硬質(zhì)膜、固體潤滑膜、陶瓷膜、膜等各種鍍層的檢測。不僅可...
玻璃應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)PA系列分布測量儀:理想的光學玻璃是各向同性的，但在退火過程中由于玻璃內(nèi)外溫度不同，或者退火爐內(nèi)各處溫度不等都會產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力。光學玻璃內(nèi)應(yīng)力的存在，破壞了各向同性，產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象，...
玻璃應(yīng)力雙折檢測系統(tǒng)PA300和PA300-L是Photonic lattic公司以其Lxian世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，高精度的測量技術(shù)，高速而又的測量3D玻璃，晶體等產(chǎn)品的雙折射效應(yīng)，得出...
PI/WPI偏振相機能夠獲得實時的偏振信息，作為一個正常的圖像，并在高分辨率。它們被應(yīng)用在許多領(lǐng)域，包括利用偏振特征識別暗物體，激光光束的實時偏振監(jiān)測等。除了PI功能可以記錄線偏振度（DOLP）和主軸...
無掩膜光刻機UTA系列是將DLP投影儀盒金相顯微鏡相結(jié)合的縮小投影型無掩模曝光系統(tǒng)，其傳統(tǒng)系統(tǒng)（用于掩膜光刻的圖案投影曝光系統(tǒng)） 可以使用專門為此目的開發(fā)的軟件來創(chuàng)建想要的圖案。
Lasertec激光+白光共聚焦顯微鏡以雙共聚焦光學系為基礎(chǔ)，搭載微分干涉觀察，垂直白光干涉測定，相差干涉測定，反射分光膜厚測定等功能，通常多臺設(shè)備才能完成的測試，僅需一臺設(shè)備即可實現(xiàn)。
玻璃內(nèi)應(yīng)力測量儀是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其...
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技術(shù)文章
20264-27
微區(qū)取樣儀是材料分析、地質(zhì)研究及生物檢測等領(lǐng)域的核心設(shè)備，其故障會直接影響實驗數(shù)據(jù)的準確性和研究進度。以下是基于設(shè)備原理及常見故障場景總結(jié)的系統(tǒng)性解決方案：一、機械系統(tǒng)故障1.故障現(xiàn)象：三維定位平臺移動卡滯、精度下降或無法歸位。2.原因分析：-導軌或絲杠因粉塵污染導致摩擦增大。-傳動皮帶松動或電機過載。3.解決方案：-清潔潤滑：使用無水乙醇擦拭導軌和絲杠，涂抹專用潤滑脂，每月維護一次。-校準恢復精度：通過配套軟件執(zhí)行“回零校準”，手動調(diào)節(jié)皮帶張緊度至用手指輕壓下垂量≤1mm。...
20264-20
Photoniclattice雙折射分析儀是一種高精度的光學測量設(shè)備，專門用于分析和檢測光子晶格內(nèi)材料的雙折射特性。雙折射現(xiàn)象是指在某些各向異性材料中，光線在不同方向上傳播時所展現(xiàn)出的不同速度和折射率。這一特性在光學材料的研發(fā)、光電器件制造以及科學研究中發(fā)揮著重要作用。通過對光子晶格雙折射現(xiàn)象的深入分析，研究人員能夠了解材料的應(yīng)力狀態(tài)、分子排列及其光學性能，為光學元件的設(shè)計和優(yōu)化提供重要依據(jù)。Photoniclattice雙折射分析儀的工作原理主要基于光的偏振和干涉現(xiàn)象。當光...
20264-15
白光共聚焦顯微鏡的調(diào)試是一個精細且系統(tǒng)的過程，旨在確保儀器能夠高效、準確地獲取樣品的高質(zhì)量圖像。以下從硬件啟動、光路校準、參數(shù)優(yōu)化到成像驗證等環(huán)節(jié)，結(jié)合具體設(shè)備的操作規(guī)范與校準技術(shù)，總結(jié)出一套完整的調(diào)試流程：一、開機準備與基礎(chǔ)檢查1.設(shè)備通電與順序啟動-按照設(shè)備標簽序號依次開機(通常順序為：電動載物臺開關(guān)→觸控屏開關(guān)→亮度調(diào)節(jié)裝置→顯微鏡主機開關(guān)→光源開關(guān)→共聚焦模塊開關(guān)→電腦主機)。-若使用油鏡(如60×/100×)，需確保鏡頭清潔，并滴加專用鏡油。2.軟件初始化與硬件自檢...
20264-13
在光子學領(lǐng)域，Photoniclattice（光子晶格）因其獨特的光傳播特性和調(diào)控能力，廣泛應(yīng)用于光波導、傳感器和光學器件等。然而，在實際應(yīng)用中，由于材料的應(yīng)力影響，光子晶格可能出現(xiàn)雙折射現(xiàn)象，從而導致信號失真和性能下降。為了解決這一問題，本文將探討幾種有效的Photoniclattice應(yīng)力雙折射解決方案：1.優(yōu)化材料選擇材料的選擇對光子晶格的性能具有重要影響。選用具有低應(yīng)力敏感性的材料，如聚合物基材料或新型二維材料，可以有效減少雙折射的影響。此外，使用具有各向同性光學特性...
20264-10
傳統(tǒng)亞微米級（1μm以下）微粒檢測依賴有安全風險的4級激光及需專業(yè)調(diào)試的專用相機，操作繁瑣且隱患突出。本系統(tǒng)實現(xiàn)世界突破：無需激光照射，僅憑單光源即可實現(xiàn)亞微米微粒目視驗證，工程師可在生產(chǎn)現(xiàn)場輕松操作，將打破傳統(tǒng)檢測模式的局限。作為0.1μm級別微粒子排查的專用設(shè)備，該系統(tǒng)在安全性、操作便捷性與檢測精度上實現(xiàn)三重突破，其核心技術(shù)參數(shù)與工作原理，充分彰顯產(chǎn)品的可靠性與現(xiàn)場實用性。二、核心技術(shù)參數(shù)與原理該系統(tǒng)以“便捷化、高安全、高精度”為核心定位，精準適配各行業(yè)現(xiàn)場檢測需求，核心...
20264-7
雙折射應(yīng)力測試設(shè)備是一種利用光學原理對材料內(nèi)部應(yīng)力進行檢測和分析的高精密儀器。在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)和科研領(lǐng)域中，該設(shè)備憑借其無損、高精度的特點，已成為材料檢測、質(zhì)量控制以及結(jié)構(gòu)優(yōu)化的重要工具。其應(yīng)用范圍廣泛，從光學材料、電子元件到航空航天零部件，都能發(fā)揮關(guān)鍵作用。1.在光學材料加工領(lǐng)域，雙折射應(yīng)力測試設(shè)備的應(yīng)用尤為突出。光學玻璃、塑料鏡片和光學元件在生產(chǎn)過程中，由于加工、熱處理或成型工藝的不均勻，應(yīng)力分布可能出現(xiàn)偏差。這種應(yīng)力如果未被及時發(fā)現(xiàn)，可能導致產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)裂紋、光學...
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